各種激發和檢測方法所構成的能譜名稱
font-size:13px;line-height:200%">
| 檢測 | 激發 | ||
| 光子（hv） | 電子（e） | 離子（I） | |
| 光子（hv） | X射線光譜 熒光光譜 其他光譜 | 電子微探針 （EPMA或XMA） | 離子引發X射線光譜（IIR） |
| 電子（e） | 光電子能譜 （ESCA或XPS，UPS） 俄歇電子能譜 （AES） | 俄歇電子能譜 （AES） 低能衍射（LEED） 高能衍射（RHEED） 能量損失譜（ELS） 掃描俄歇顯微鏡 （SAM） | 離子中和譜 （INS） |
| 離子（I） | � | 電子探針表面質譜 （EPSMS） | 二次離子質譜 （SIMS） 離子散射譜 （ISS） |